Competenza

Proponiamo strumenti di caratterizzazione su nanoscala altamente innovativi

Assistenza

Proponiamo le migliori soluzioni possibili alla nostra clientela, grazie alla nostra competenza e capacità di ascolto.

Test

Eseguiamo prove e misurazioni conto terzi con gli strumenti di nostra proprietà installati nei nostri uffici

Perché scegliere il NANOS

Il NANOS di Semplor è un NUOVO SEM da banco, progettato da zero in Olanda affidabile e dai costi di esercizio contenuti. Perché affidarsi alla tecnologia Nanos?

  • Risoluzione. La risoluzione del Nanos è <8 nm, la qualità dell’immagine da vero e proprio “floor SEM”.
  • Facilità di utilizzo, grazie all’interfaccia software moderna ed intuitiva.
  • Affidabilità e facilità di manutenzione. Nella progettazione del NANOS sono stati usati i moderni principi del “Design for Reliability and Maintenance”
  • Costi di esercizio contenuti. La tecnologia di cui il NANOS è dotato consente di preservare la vita del filamento, riducendo in tal modo il costo per il consumabile.
  • Integrazione della microanalisi EDS. Il NANOS nasce con questa importante funzione integrata, non è necessario quindi acquistare alcuna sonda da terze parti.

Qualità di imaging senza compromessi

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SEM image of SERS fibres

Rendiamo il SEM accessibile a chiunque e dovunque.

Il NANOS è un microscopio elettronico a scansione (SEM) da banco completo e conveniente. È costruito utilizzando la tecnologia più recente, fornisce immagini SEM e di qualità impeccabile e analisi elementale. Il suo design è robusto e moderno, il che lo rende perfetto per la ricerca e lo sviluppo e l'industria.

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Applicazioni in primo piano

INCONTRA IL NANOS

  • 11-15 maggio 2025, Bertinoro (FC)EUPOC 2025 – MacroLight

  • 5-6 giugno 2025, ModenaNanoscience Institute 4th workshop - “Reconnecting, inspiring interactions“

  • 8 luglio 2025, VeneziaFISMAT 2025

  • 22 luglio 2025Webinar: a new Discover

  • 7-12 settembre 2025, Portoroz (Slovenia)17MCM - 17° Multinational Congress on Microscopy

  • 21-23 ottobre 2025, BolognaGiornate di Dipartimento DSCTM 2025

  • 19 novembre 2025, Corsico (MI)Corso di Formazione – Dal microscopio ottico al SEM: applicazioni pratiche per il controllo qualità dei metalli

  • 4-6 marzo 2026, BolognaMECSPE 2026

  • 19 marzo 2026, PerugiaMetrologia ottica 3D – Misura di forma e superficie per processi manifatturieri avanzati

  • 26-27 maggio 2026, LeccoCorso AIM - Microscopia Elettronica in Scansione (SEM) - V edizione

Affidati alla tecnologia SEM di ultima generazione

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